SEM avec spectroscopie de rayons X à dispersion d’énergie

Nœud :

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Université Concordia – Centre for NanoScience Research

Fabricant et modèle : Thermo Fisher Scientific, Phenom ProX

Site web externe : Centre for NanoScience Research

Personne ressource : Hoda Heli

Fait partie du RQMÉM : non

Adresse : 7141 rue Sherbrooke O., Montréal, QC H4B 1R6

Un microscope électronique à balayage haute performance compact, pour l’imagier de surface de haute résolution et l’analyse compositionnelle. Le Phenom ProX intègre un détecteur en spectroscopie de Rayons-X à dispersion d’énergie (EDS) pour l’imagerie et la caractérisation élémentaire en simultané.

Caractéristiques et modes

  • Modes d’imagerie : électrons secondaires (SE) pour morphologie de surface, électrons rétrodiffusés (BSE) pour contraste compositionnel.

  • Capacités EDS: Cartographie élémentaire qualitative et semi-quantitative et analyse de point.

  • Résolution : Imagerie de haute résolution adaptée aux échelles micro- et nano-.

  • Mode de vide faible : Permet l’analyse d’échantillons non-conducteurs avec une préparation d’échantillon minimale.

  • Interface facile à utiliser : chargement rapide et alignement automatisé pour une analyse à haut débit.

Applications :

Idéal pour la morphologie de surface, l’analyse de fractures, la caractérisation de particules, et le repérage compositionel de routine.

Images de qualité en quelques minutes.

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