Les instruments en microscopie électronique des matériaux
Microscopes électroniques en transmission (MET/TEM)
Microscopes électroniques à balayage (MEB/SEM)
NX-5000 (Ethos) Dual-FIB/SEM

Préparation d’échantillons
Appareils complémentaires dans les plateformes
Hitachi SU9000 CFE-SEM/STEM avec EELS/EDS

Flat and Cross section Ion Milling









