Microscope Hitachi SU-8230 CFE-SEM/STEM

Par /

Nœud :

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Université McGill – McGill Electron Microscopy Research Group

Fabricant et modèle : Microscope Hitachi SU-8230 CFE-SEM/STEM

Site web externe : McGill

Personnes ressource : Nicolas Brodusch; Lise Guichaoua

Fait partie du RQMÉM : non

Adresse : Pavillon M.H. Wong, 3610, rue University, Montréal, QC H3A 0C5

Résolution : 0.4 nm à 30kV, 3 nm à 0.05 kV

Détecteurs, caméras et spectromètres :

  • Détecteur SE intégré à la chambre

  • Détecteurs SE/BSE intégrés à l’objectif avec filtrage d’énergie (supérieur et haut)

  • Détecteur BSE à photodiode à l’état solide (5 quadrants)

  • Détecteur BF STEN avec ouvertures

  • Détecteur ADF/HAADF à l’état solide avec angles de collecte réglables

  • Bruker XFlash 6|60 SDD 60 mm2

  • SDD Bruker FlatQuad 5060F à 4 quadrants (1,2 Sr)

  • Caméra EBSD Bruker eFlash avec détecteurs ARGUS et OPTIMUS

  • Nettoyage in situ eCloud en aval

Caractéristiques :

  • Cold field emission / émission à froid

Applications :

Permet de capturer des détails de surface incroyables ou de travailler en mode STEM sur des échantillons minces. Sa fonction d’auto-flash modéré garantit une luminosité optimale en permanence, offrant une haute résolution spatiale et un meilleur rapport signal/bruit en mode imagerie, ainsi qu’un taux de génération de rayons X plus élevé.

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