Les nœuds

Universités partenaires et leurs plateformes de microscopie

Un nœud est un établissement partenaire qui est une institution d’enseignement supérieur qui soutient le Réseau Québécois de microscopie électronique des matériaux et où se trouve une ou plusieurs plateformes de microscopie. Certains nœuds font parties des institutions qui ont participé à la demande de subvention à la fondation canadienne pour l’innovation, en 2017, soit l’Université de Sherbrooke, l’Université McGill, Polytechnique Montréal, l’Université de Montréal, l’Université Concordia, l’Université Laval, et l’École de technologie supérieure. D’autres établissements partenaires peuvent s’ajouter comme nœuds sous approbation du conseil d’administration du RQMÉM.

McGill

Le FEMR (Facility for Electron Microscopy Research) et le MEMRG (McGill Electron Microscopy Research Group) sont les plateformes de microscopies membres du Réseau Québécois de microscopie électronique des matériaux et rassemblent une expertise variée avec plusieurs microscopistes collaborant avec le Réseau.

Le FEMR est une plateforme qui sert autant en science des matériaux qu’en biologie avec une expertise pour la tomographie, reconstruction moléculaire et visualisation en trois-dimensions.
Le MEMRG détient l’expertise pour la quantification de rayons X, l’analyse de matériaux et les batteries.




Microscopistes de McGill
Nicolas Brodusch

Nicolas Brodusch est actuellement Assistant de Recherche à l’Université McGill et est affilié au groupe de recherche sur la microscopie électronique de McGill (McGill Electron Microscopy Research Group, MEMRG, www.memrg.com), dirigé par le professeur Raynald Gauvin. En plus d’assurer la gestion opérationnelle des équipements et la supervision des projets de recherche des étudiants du groupe en lien avec le professeur, il a à cœur de développer des techniques innovantes, autant dans le domaine de la préparation d’échantillons que dans la caractérisation de matériaux divers par microscopie électronique à balayage.

Nicolas a obtenu un Diplôme Universitaire de Technologie (DUT), option Mesures-Physiques, à l’université Paris XI à Orsay, France, en 1997. Après avoir perfectionné ses techniques d’analyses et de recherches en tant que technicien de laboratoire dans divers laboratoires, il a obtenu un Master en Science et Génie des Matériaux par validation des acquis professionnels à l’université Paris-Saclay, Orsay, France, en 2018. Durant les seize années qu’il a passées au MEMRG, Nicolas a eu à cœur de pousser les limites des microscopes électroniques à balayage (MEB) sous sa supervision afin d’améliorer la résolution en imagerie et la qualité d’image mais aussi pour utiliser les détecteurs équipant ces instruments à leur plein potentiel. Ces travaux ont été reconnus internationalement par le biais de nombreuses publications scientifiques ainsi que par l’attribution d’un prix à la conférence Microscopy & Microanalysis à Hartford, CT, en 2014 pour l’article “Dark-field imaging of thin specimens with a forescatter electron detector at low accelerating voltage”, et plusieurs invitations en tant que présentateur invité à plusieurs conférences pendant les dernières années.

angel valdez microscopiste mcgill

Angel Valdez est un associé de recherche à la Facility for Electron Microscopy Research (FEMR) de l’Université McGill, où il développe et applique les techniques de microscopie pour la caractérisation de matériaux et l’analyse structurelle. Son expertise inclue la diffraction éelctronique sur microcristaux (MicroED), la microscopie électronique à balayge en transmission (STEM) la spectroscopie aux rayons X à dispersion d’énergie (EDS), la spectroscopie en perte d’énergie des électrons (EELS), la tomographie électronique, et la microscopie électronique cryogénique. Il est particulièrement intéressé par le développement de nouveaux procédés qui étendent les capacités de la microscopie électronique et rendent les techniques avancées plus accessibles à la communauté scientifique.

Angel Valdez a un doctorat en énergie et science des matériaux de l’INRS, au Québec. Il a ensuite rejoint l’Université McGill où il travaille présentement comme associé de reserche à FEMR. Sa recherchese concentre sur le développement de méthodes innovantes en microscopie électronique. En plus de sa recherche, il aime supporter les utilisateurs et utilisatrices en donner du support technique et de la formation, enseigner les techniques de microscopie, organiser des ateliers et présentations qui aident les scientifiques à tirer profit de leurs instruments avancés de microscopie.

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Équipements de McGill

Appareils intégrés au RQMÉM

talos f200x g2
DualBeam

Autres appareils (non intégrés au RQMÉM)

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Concordia

La plateforme de microscopie institutionnelle de caractérisation des matériaux accueil le microscope életronique à balayage (SEM/MEB) du nœud de Concordia.




Microscopistes de Concordia

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Équipements de Concordia

Appareils intégrés au RQMÉM

SEM

Autres appareils (non intégrés au RQMÉM)

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Polytechnique Montréal / Université de Montréal

Le noeud de polytechnique Montréal et de l’Université de Montréal héberge les plateformes de microscopie de l’Université de Montréal (Institut Courtois) et de Polytechnique Montréal (Centre de caractérisation microscopique des matériaux)

Le centre de caractérisation microscopique des matériaux ou (CM)2 , installé à Polytechnique Montréal, est expert en cristallographie et en métallurgie. Le (CM)2 héberge présentement les microscopes électroniques du noeud Polytechnique Montréal et du noeud Université de Montréal. Un nouveau microscope électronique à transmission sera installé en 2027.

L’institut Courtois, de l’Université de Montréal, accueillera bientôt un nouveau microscope électronique de pointe affilié au Réseau Québécois de microscopie électronique des matériaux. Restez à l’affût pour en savoir plus.




Microscopistes de Polytechnique Montréal et Université de Montréal
Philippe Plamondon

Titulaire d’une maîtrise en génie des matériaux, Philippe Plamondon est professionnel de recherche au Centre de caractérisation microscopique des matériaux, le (CM)2, à Polytechnique Montréal, où il travaille depuis 24 ans.

Au fil des années, il a acquis une vaste expérience pratique des différentes techniques de microscopie et de caractérisation disponibles au (CM)2. Ses activités se concentrent aujourd’hui principalement sur la microscopie électronique à balayage (MEB) et les techniques de faisceau ionique focalisé (FIB), notammentla reconstruction 3D par plasma FIB. En plus d’aider de nombreuses entreprises à relever leurs défis liés aux matériaux, il participe également à l’enseignement de la caractérisation microscopique à Polytechnique Montréal et contribue à la formation des étudiantes et étudiants aux tecniques de microscopie électronique.

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Équipements de Polytechnique Montréal et Université de Montréal

Appareils intégrés au RQMÉM

FIB thermo fisher helios 5 ux
MEB thermo fisher quattro
PFIB thermo fisher helios 5 hydra cx

Université de Sherbrooke

Le 3iT matériaux héberge un secteur dédié au RQMÉM incluant un TEM, un FIB au gallium, et un laboratoire de préparation des échantillons. Ce noeud est équipé pour de la ultrahaute résolution avec spectroscopie avancée comme la spectroscopie de perte d’énergie des électrons (EELS) et la spectroscopie de rayons-X à dispersion d’énergie (EDX)

Le microscopiste du nœud de Sherbrooke, Frédéric Voisard, a une expertise en analyse d’imagerie pour la segmentation, classification, métrologie, la vision industrielle et les réseaux de neurones artificiels. Il a une formation dans la visualisation et segmentation et l’utilisation de Dragonfly (COMET).




Microscopistes de l’Université de Sherbrooke

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Équipements de l’Université de Sherbrooke

Appareils intégrés au RQMÉM

TEM Spectra
Photo : Université de Sherbrooke par Michel Caron
Deux personnes utilisent le FIB
Photo : Université de Sherbrooke par Michel Caron

Autres appareils (non intégrés au RQMÉM)

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Université Laval

L’université Laval est un pôle important de la science des matériaux au Québec. Plusieurs plateformes de microscopie se trouvent sur et hors campus de l’Université Laval.




Microscopistes de l’Université Laval

Samira Ravanbakhsh est professionnelle de recherche au Centre de recherche du CHU de Québec–Université Laval, au sein du BIMlab dirigé par le professeur Marc-André Fortin. Son expertise comprend la caractérisation des biomatériaux et des nanoparticules, l’analyse des surfaces et des interfaces ainsi que la microscopie électronique avancée. Depuis 2025, elle contribue de façon importante à la mise en place du service de cryo-microscopie électronique en transmission (cryo-TEM) au Centre de recherche du CHU de Québec–Université Laval (collaboration entre le BIMlab et la Plateforme de Bio-imagerie). Ses travaux portent notamment sur la visualisation et la caractérisation de matériaux biologiques et de matériaux mous, tels que les vésicules extracellulaires, les liposomes, les particules de type viral, les hydrogels, les nanoparticules et les tissus tumoraux, à l’aide de la cryo-microscopie électronique et de techniques complémentaires de caractérisation et de méthodes avancées d’analyse d’images.

Samira détient un doctorat en génie des matériaux de l’Université Laval, avec une spécialisation en biomatériaux. Au cours de ses études doctorales, elle a travaillé sur la modification de surfaces et la caractérisation d’endoprothèses cardiovasculaires et d’implants osseux. Elle a également reçu une formation spécialisée à la plateforme de recherche en microscopie électronique (FEMR) de l’Université McGill en microscopie électronique en transmission à haute résolution, appliquée à la caractérisation de nanoparticules à base de terres rares. En parallèle de ses activités de recherche, elle est chargée d’enseignement, elle est de plus chargée d’enseignement à l’Université Laval pour des cours dans le domaine des biomatériaux, notamment en nanobiomatériaux pour la théranostique et en modification de surface des biomatériaux. 

alexandre bastien ul

Alexandre Bastien : Formé en physique à l’Université de Sherbrooke (2008, B. Sc.) et au centre d’optique photonique et laser de l’Université Laval (2010, M. Sc.), il a ensuite travaillé 8 ans comme professionnel de recherche en microscopie confocale et 2 ans comme technicien de physique. Depuis 2021, il est responsable de la plateforme d’imagerie et microscopie de l’IBIS à l’Université Laval. Bien qu’hébergée dans un institut des sciences de la vie, cette plateforme accueil plusieurs groupes et projets en science des matériaux. Elle compte un MET et un MEB ainsi que le service de préparation d’échantillons et ultra-microtomie, un service d’histologie et plusieurs microscopes optiques à haute résolution. Parmi les matériaux les plus intéressant observés, les nanotubes de carbones (MET) et les fibres de bois extrudés par électrofilage (MEB) sont ses favoris.

Diplômé de l’École Polytechnique en génie physique (2004) et titulaire d’un doctorat de l’INRS-EMT (2010), Nicholas Larouche a été professionnel de recherche à INRS-EMT jusqu’en 2015 (recherche et développement de catalyseurs non-nobles pour les piles à combustible à hydrogène) avant d’aller dans l’industrie (développement et mise à l’échelle de procédé de production de nanomatériaux de carbone chez Raymor). En 2023, il a rejoint la plateforme de caractérisation du Microlab à l’Université Laval à titre de responsable de travaux pratiques et de recherche afin de répondre aux besoins de la clientèle académique, gouvernementale et industrielle entourant les analyses par microscopie électronique à balayage. Fort de multiples expériences sur la synthèse de matériaux et le développement de procédés, il possède une expertise approfondie en caractérisation et une vision large qui aident à répondre aux besoins de la clientèle avec professionnalisme.

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École de Technologie Supérieure

L’ÉTS héberge actuellement un l’Ion Miller du Réseau pour la préparation d’échantillons. Il est installé dans un environnement de laboratoire avec d’autres équipements de caractérisation des matériaux et de fabrication.




Microscopistes de l’ÉTS

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Équipements de l’ÉTS

Appareils intégrés au RQMÉM

Ion Miller

Autres appareils (non intégrés au RQMÉM)

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