PFIB Helios 5 Hydra CX

Nœud :

Polytechnique Montréal – Centre de caractérisation microscopique des matériaux (CM)²

Fabricant et modèle : Thermo Fisher Scientific Double faisceau Helios Hydra CX

Site web externe : (CM)²

Personne ressource : Jean-Philippe Masse

Fait partie du RQMÉM : oui

Adresse : Pavillon Principal (A), 2900, boul. Édouard-Montpetit, Montréal, QC H3T 1J4

Microscope électronique à faisceau ionique focalisé (FIB)

Résolution :

0.6 nm à 15kV

Détecteurs, caméras et spectromètres :

• Électrons secondaires (SE)

• Électrons rétrodiffusés (BSE)

• Électrons rétrodiffusés à faible angle (LABE)

• Microscopie électronique à transmission à balayage en fond sombre annulaire à grand angle (STEM/HAADF)

Caractéristiques :

• Système de déposition de tungstène, platine et carbone par faisceau d’électrons et d’ions (MultiChem)

• Quatre espèces d’ions à choisir (Xe, Ar, O et N)

• Colonne ionique à courant élevé

• Équipé d’un micro-manipulateur pour placer l’échantillon sur un porte-échantillon MET standard

Applications :

Micro-usinage de grande surface/volumes, reconstruction multimodale 3D par coupe en série (microstructure, cristallographie et chimie), préparation d’échantillons STEM, TEM et APT sans Ga+, système très polyvalent.

Plusieurs applications possibles incluant la microscopie électronique volumique, la microscopie corrélative optique et électronique, la méthode Spin Mill Bio, la préparation de lamelles, congélation sous haute pression (HPF), l’ultrastructure cellulaire, et la tomographie par réseau.