SU9000 CFE-SEM/STEM avec EELS et EDS

Par /

Nœud :

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Université McGill – McGill Electron Microscopy Research Group

Fabricant et modèle : Microscope Hitachi SU9000 CFE, SEM/STEM, EELS et EDS

Site web externe : McGill

Personnes ressource : Nicolas Brodusch

Fait partie du RQMÉM : non

Adresse : Pavillon M.H. Wong, 3610, rue University, Montréal, QC H3A 0C5

Résolution : 0.16 nm à 30kV (mode BF), 0.4 nm (mode SE).

Détecteurs, caméras et spectromètres :

  • Détecteur bright field BF STEM avec ouvertures

  • Détecteurs électrons secondaires/électrons rétrodiffusés (SE/BSE) intégrés à l’objectif avec filtrage d’énergie (supérieur et haut)

  • Détecteur Annular dark field/high angle annular dark field (ADF/HAADF) à l’état solide avec 4 quadrants et secteur à faible angle

  • Caméra Extreme 100 mm2 SDD de Oxford Instrument sans fenêtre

  • Caméra CCD 1600 x 1200 pour CBED

  • Spectroscopie en perte d’énergie des électrons STEM-EELS à bas voltage (20, 30 kV)

  • Nettoyage in situ eCloud en aval

Caractéristiques :

  • Contrôles externes avec Hitachi High-Tech. Logiciel Azorus.

  • Système de spectroscopie en dispersion d’énergie des rayons X (EDS)

  • Système de spectroscopie par perte d’Énergie des électrons (EELS)

  • Système de diffraction électronique à faisceau convergent (CBED)

Applications :

Combinaison parfaite de microscope électronique à balayage (SEM) et de microscope électronique à balayage en transmission (STEM). Offre des performances exceptionnelles à faible énergie de faisceau. Excellent pour les nanomatériaux.

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