SU9000 CFE-SEM/STEM avec EELS et EDS

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Université McGill – McGill Electron Microscopy Research Group

Manufacturer and model : Microscope Hitachi SU9000 CFE, SEM/STEM, EELS et EDS

External website : McGill

Contact person : Nicolas Brodusch

Part of RQMÉM : no

Address M.H. Wong Building, 3610, University Street, Montreal, QC H3A 0C5

Resolution : 0.16 nm at 30 kV (BF mode, 0.4 nm (SE mode).

Detectors, cameras and spectrometers :

  • Détecteur bright field BF STEM avec ouvertures

  • Détecteurs électrons secondaires/électrons rétrodiffusés (SE/BSE) intégrés à l’objectif avec filtrage d’énergie (supérieur et haut)

  • Détecteur Annular dark field/high angle annular dark field (ADF/HAADF) à l’état solide avec 4 quadrants et secteur à faible angle

  • Oxford Instrument windowless Extreme 100 mm2 SDD

  • 1600 x 1200 CDD for CBED

  • Spectroscopie en perte d’énergie des électrons STEM-EELS à bas voltage (20, 30 kV)

  • Downstream eCloud in situ cleaning

Specifications :

  • External control via Hitachi High-Tech. Azorus software

  • Système de spectroscopie en dispersion d’énergie des rayons X (EDS)

  • Electron energy loss spectroscopy (EELS)

  • Convergent-beam electron diffraction (CBED)

Applications :

Perfect mix of scanning electron microscope (SEM) and scanning transmission electron microscope (STEM). Offers exceptional performances with low energy beam. Excellent for nanomaterials.

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