Nœud :
Université McGill – McGill Materials Characterization (MMC)
Fabricant et modèle : Hitachi Cold FE SU8000 canon à émission à froid
Site web externe : McGill
Personne ressource : Philippe Ouzilleau
Fait partie du RQMÉM : non
Adresse : Pavillon M.H. Wong, 3610, rue University, Montréal, QC H3A 0C5
Résolution : 0.5 nm à 30kV, 2 nm à 0.2 kV
Détecteurs, caméras et spectromètres :
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Électrons secondaires (SE)
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Électrons secondaires et rétrodiffusés (SE/BSE)
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SE/BSE avec filtre d’énergie
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Détecteur BSE à 5 quadrants
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Détecteur STEM pour fond clair et fond sombre
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Imagerie et détecteur SDD EDS
Caractéristiques :
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Courant maximal de la sonde est 30 nA
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Opéré avec un canon à émission à froid
Applications :
Microscopie électronique à balayage (MEB) versatile pour une utilisation stable et une excellente résolution. Microanalyse quantitative des Rayons X à bas voltage en mode STEM. Possibilité d’observer les échantillons non-conducteurs sans ajout d’une couche conductrice avant l’analyse.