MEB Hitachi Cold FE SU8000 canon à émission à froid

Node :

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Université McGill – McGill Materials Characterization (MMC)

Manufacturer and model : Hitachi Cold FE SU8000 canon à émission à froid

External website : McGill

Contact person : Philippe Ouzilleau

Part of RQMÉM : no

Address M.H. Wong Building, 3610, University Street, Montreal, QC H3A 0C5

Resolution : 0.5 nm at 30 kV, 2 nm at 0.2 kV

Detectors, cameras and spectrometers :

  • Secondary electrons (SE)

  • Électrons secondaires et rétrodiffusés (SE/BSE)

  • SE/BSE with energy filter

  • BSE detector with 5 quadrants

  • STEM detector for dark field and bright field

  • SDD EDS Imagery and detector

Specifications :

  • Max sensor current is 30 nA

  • Operated with a cold field emission gun

Applications :

Microscopie électronique à balayage (MEB) versatile pour une utilisation stable et une excellente résolution. Microanalyse quantitative des Rayons X à bas voltage en mode STEM. Possibilité d’observer les échantillons non-conducteurs sans ajout d’une couche conductrice avant l’analyse.

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