Nœud :
Université McGill – McGill Electron Microscopy Research Group
Fabricant et modèle : Hitachi IM-4000 Plus
Site web externe : McGill
Personnes ressource : Nicolas Brodusch; Stéphanie Bessette; Lise Guichaoua
Fait partie du RQMÉM : non
Adresse : Pavillon M.H. Wong, 3610, rue University, Montréal, QC H3A 0C5
Flat and cross section ion milling
Caractéristiques :
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Équipé de systèmes optiques garantissant un fraisage parfait des surfaces
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Plage de tensions d’accélération comprise entre 1 et 6 kV
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Différents modes de rotation de la platine
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Système de transfert à protection par air
Applications :
Le M-4000Plus est un système de fraisage par faisceau ionique polyvalent utilisé pour la réalisation de coupes transversales et le fraisage à plat de divers matériaux. Le fraisage n’est pas limité aux matériaux durs, mais peut également être utilisé sur des matériaux comme du papier, des polymères ou des poudres. Préparation d’échantillon avant l’analyse au MEB.
En plus de son utilisation pour la préparation d’échantillon pour la microscopie électronique, le fraisage peut également être utilisé pour la préparation d’échantillon de microscopie par force atomique (AFM). Ce système utilise un faisceau de basse énergie d’ions Ar+ pour produire un fraisage plus large et sans distorsions, sans appliquer de stress mécanique à l’échantillon. L’instrument offre deux configuration : la découpe transversale d’un échantillon et la polissage fin de la surface d’un échantillon de grande superficie.