Nœud :
Université Concordia – Concordia Materials Characterization Platform
Fabricant et modèle : Microscope électronique à balayage Hitachi Regulus 8230
Site web externe : Concordia Materials Characterization Platform
Personne ressource : Dmytro Kevorkov
Fait partie du RQMÉM : oui
Adresse : 1455, Blvd. De Maisonneuve Ouest, Montréal, QC, H3G 1M8
Résolution :
5 nm
Détecteurs, caméras et spectromètres :
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Électrons secondaires (SE)
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Électrons rétrodiffusés (BSE)
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Spectroscopie de rayons X à dispersion d’énergie (EDS)
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Diffraction des électrons rétrodiffusés (EBSD)
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Microscopie électronique à balaye en transmission (STEM)
Applications :
Microscope électronique à balayage (SEM) de haute résolution, équipé avec une source d’émission à froid, idéal pour l’ultra-haute résolution. Échantillon de tailles allant jusqu’à 150 mm. Spécialisé dans l’étude des caractéristiques structurelles et chimiques des matériaux et nanomatériaux, comme des métaux, alliages, semiconducteurs, composites, etc. Idéal pour les applications académiques et industrielles en sciences des matériaux.
Pour réserver du temps machine, contacter Mazen Samara et Dmytro Kevorkov.
La plateforme est équipée d’une variété d’équipements complémentaires à la microscopie pour la caractérisation de matériaux, incluant un microscope optique métallographique (MOM), un microscope confocal à laser, l’analyse thermogravimétrique (TGA), la calorimétrie différentielle à balayage (DSC), un diffractomètre aux rayons X (XRD), un banc d’essai d’érosion par gouttes d’eau, un analyseur de conductivité thermique, un appareil pour les tests de corrosion, un analyseur ONH, et un analyseur CS, et d’autres équipements spécialisés.