Caractérisation MET d’un intermétallique Mg-Al-Sr

Publié le 4 septembre 2026

Un intermétallique ternaire présent dans les alliages AJ62

Décomposion en alpha-Mg et Al4Sr, Matrice de Mg, Intermétalique ternaire, 0.5 microns

Image MET montrant l’intermétallique ternaire débutant sa décomposition en α-Mg et Al4Sr suite à un traitement thermique.

L’alliage de magnésium AJ62 est utilisé pour des applications à haute température nécessitant une bonne résistance au fluage. L’alliage étudié contenait un intermétallique ternaire très peu documenté dans la littérature, en plus de l’eutectique Al₄Sr présent dans tous les alliages AJ62. La composition chimique de la phase ternaire a été déterminé par EDS au MET comme étant très près de Mg₉Al₃Sr.

Des traitements thermiques ont été réalisés afin d’étudier la stabilité de cet intermétallique ternaire. Les analyses chimiques effectuées après traitement thermique ont révélé une augmentation du ratio Al/Sr vers une valeur similaire à celui de la phase Al₄Sr, accompagnée d’une diminution de sa teneur en Mg. Après cette modification, l’intermétallique ternaire se décompose au cours du traitement thermique en α-Mg et Al₄Sr.

La structure cristalline de l’intermétallique ternaire, qui était alors mal connue, a été étudiée par diffraction électronique en microscopie électronique en transmission (MET). L’analyse des clichés de diffraction d’une dizaine d’axes de zone à l’aide d’une approche numérique itérative a permis déterminer que l’intermétallique a une structure quadratique, avec des paramètres de maille a = 1,012 nm et c = 1,169 nm.

Indexation des clichés de diffractions au MET sur intermétallique ternaire

Indexation des clichés de diffraction obtenus au MET sur l’intermétallique ternaire montrant les angles mesurés (M) et les angles calculés (C) selon la structure identifiée.

Titulaire d’une maîtrise en génie des matériaux, Philippe Plamondon est professionnel de recherche au Centre de caractérisation microscopique des matériaux, le (CM)2, à Polytechnique Montréal, où il travaille depuis 24 ans.

Au fil des années, il a acquis une vaste expérience pratique des différentes techniques de microscopie et de caractérisation disponibles au (CM)2. Ses activités se concentrent aujourd’hui principalement sur la microscopie électronique à balayage (MEB) et les techniques de faisceau ionique focalisé (FIB), notamment la reconstruction 3D par plasma FIB. En plus d’aider de nombreuses entreprises à relever leurs défis liés aux matériaux, il participe également à l’enseignement de la caractérisation microscopique à Polytechnique Montréal et contribue à la formation des étudiantes et étudiants aux techniques de microscopie électronique.

Référence

G. L’Espérance et al., Intermetallics, 2010, 18.

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