NX-5000 DUAL-FIB/SEM with EDS/EBSD

Node :

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Manufacturer and model : Hitachi NX-5000 (Ethos)

External website : MEMRG

Contact person : Stéphanie Bessette

Part of RQMÉM : yes

Address M.H. Wong Building, 3610, University Street, Montreal, QC H3A 0C5

Resolution :

SEM : 1.5 nm at 1 kV, 0.7 nm at 15 kV

FIB : 4 nm at 30 kV, 60 nm at 2 kV

Detectors, cameras and spectrometers :

  • Secondary electrons and backscattered electrons in objective (SE(U), (BSE(U), BSE(L)

  • Secondary electrons in chamber (SE(L))

Specifications :

  • Cold-field SEM emission

  • Liquid gallium ionic source

  • Quorum cryo system (PP3010T)

  • Courant de la sonde : 5 pA-10nA, maximum 100 nA en FIB

  • Voltage d’accélération : de 0.1 à 30 kV

  • Canon à ions Ar+ avec une énergie inférieure à 2 keV

Applications :

Imagerie nanométrique, production de lamelles pour MÉT, reconstruction 3D de la microstructure de matériaux, préparation de matériaux souples, finition de surfaces

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